• 汇策-上海德垲专业半导体检测服务

    提供专业的半导体检测、元器件筛选、集成电路可靠性测试等一站式解决方案

    元器件测试 | 半导体测试 | 失效分析 | 车规芯片 | 集成电路测试

  • 化学材料分析
    产品认证测试

    专业半导体测试

    为半导体行业提供全面的认证测试服务,包括可靠性测试、失效分析和质量评估,确保产品符合国际标准

  • 半导体全方位测试解决方案

    提供半导体元器件的可靠性测试、失效分析、质量评估等全方位服务,助力客户产品质量提升

    可靠性测试 | 失效分析 | 质量评估 | 技术咨询 | 定制化测试

关于我们

汇策旗下的上海德垲检测是专业的第三方半导体检测与分析服务机构,专注于元器件筛选、集成电路可靠性测试、集成电路量产测试、第三代半导体测试、失效分析、先进封装组装技术、显微结构及材料分析、破坏性物理分析(DPA)、光电子测试、先进材料测试以及车规芯片等领域。公司依托CNAS认可实验室、国际先进检测设备及资深专家团队,为新能源汽车、5G通信、航空航天、消费电子、工业控制等行业提供精准、可靠、一站式的质量保障与技术解决方案。

硬核实力:实验室配备国际领先的半导体测试仪器,建立数百项可靠性与失效分析标准化方法
专家团队:由半导体材料、可靠性工程领域资深工程师领衔,平均10年以上行业经验
高效服务:24小时应急响应通道,提供"测试-分析-优化"闭环服务,支持国产化替代验证
汇策半导体检测

核心服务

专业提供于元器件测试、半导体测试、失效分析、车规芯片测试、集成电路测试等服务

选择汇策的优势

专业半导体检测团队,全球服务网络,一站式可靠性与失效分析解决方案

专业高效

由资深半导体专家组成的专业团队,根据客户需求快速响应,提供定制化可靠性测试与失效分析方案

全程跟踪

专属客服全程跟踪项目进度,及时沟通测试结果,确保客户实时掌握芯片及元器件质量状况

个性定制

根据客户需求提供定制化的元器件筛选、量产测试、失效分析、车规验证等服务,满足不同应用场景需求

硬核实力

实验室配备国际领先的检测仪器,建立百余项标准化检测方法,数据精准度达行业领先水平。

24小时 快速响应
72小时 急单快检
15+ 年行业经验
98% 客户满意度
金属 & 塑料件断口失效分析

金属 & 塑料件断口失效分析

金属与塑料件断口失效分析通过SEM观察与...

电子元器件失效分析

电子元器件失效分析

电子元器件失效分析结合电气测试与微观表征...

集成电路失效分析

集成电路失效分析

集成电路失效分析通过分层、显微观察与电学...

功率器件失效分析

功率器件失效分析

功率器件失效分析聚焦热应力、键合与材料退...

PCB 板材 & 焊点失效分析

PCB 板材 & 焊点失效分析

PCB板材及焊点失效分析评估虚焊、裂纹与...

车用电子工艺质量评价

车用电子工艺质量评价

提供PCB/PCBA及汽车电子工艺质量检...

5G 高速电路基板可靠性验证

5G 高速电路基板可靠性验证

5G高速电路基板可靠性验证评估信号完整性...

PCB PCBA 金相切片试验

PCB PCBA 金相切片试验

PCB与PCBA金相切片试验揭示焊点、镀...

活性金属化基板测试 AMB

活性金属化基板测试 AMB

AMB活性金属化基板测试评估铜层结合力与...

芯片板级可靠性测试 (BLR)

芯片板级可靠性测试 (BLR)

芯片板级可靠性测试BLR模拟温度循环与跌...

PCBA 工艺及结构可靠性评估与验证

PCBA 工艺及结构可靠性评估与验证

PCBA工艺及结构可靠性评估验证焊接质量...

锡须检查

锡须检查

锡须检查采用高倍显微观察与生长加速测试,...

离子清洁度测试

离子清洁度测试

离子清洁度测试检测PCBA表面残留离子污...

PFIB 等离子体聚焦离子束显微镜

PFIB 等离子体聚焦离子束显微镜

提供3D NAND/DRAM/MEMS等...

EDS 能谱分析

EDS 能谱分析

EDS能谱分析快速定性定量元素分布与成分...

AFM 原子力显微镜分析

AFM 原子力显微镜分析

AFM原子力显微镜分析提供纳米级表面形貌...

晶圆劈裂设备及 SEM 拍摄

晶圆劈裂设备及 SEM 拍摄

晶圆劈裂结合SEM拍摄实现高分辨截面观察...

TEM 透射电子显微镜拍摄分析

TEM 透射电子显微镜拍摄分析

TEM透射电子显微镜提供原子级分辨率晶格...

DB-FIB 双束聚焦离子束显微镜

DB-FIB 双束聚焦离子束显微镜

DB-FIB双束聚焦离子束显微镜结合SE...

先进制程晶圆级 FIB 制样及 TEM 分析

先进制程晶圆级 FIB 制样及 TEM 分析

先进制程晶圆级FIB制样结合TEM分析,...

破坏性物理分析 (DPA)

破坏性物理分析 (DPA)

破坏性物理分析DPA通过解剖检查内部结构...

X-ray 无损检测

X-ray 无损检测

X-ray无损检测快速发现内部空洞、裂纹...

商业航天用 COTS 元器件 DPA(破坏性物理分析)检查

商业航天用 COTS 元器件 DPA(破坏性物理分析)检查

商业航天用COTS元器件DPA检查严格验...

元器件腐蚀验证

元器件腐蚀验证

元器件腐蚀验证分析表面与内部腐蚀类型、程...

先进封装人工智能芯片 DPA

先进封装人工智能芯片 DPA

先进封装人工智能芯片DPA深入检查多层键...

大功率模组的破坏性物理分析

大功率模组的破坏性物理分析

大功率模组破坏性物理分析揭示热应力导致的...

光电子器件失效分析

光电子器件失效分析

光电子器件失效分析结合光学与电学测试,定...

光模块可靠性及测试

光模块可靠性及测试

光模块可靠性测试覆盖高温老化、湿热与光功...

硅光芯片测试

硅光芯片测试

硅光芯片测试评估调制器、探测器与波导性能...

光电子器件测试

光电子器件测试

光电子器件测试测量响应速度、谱响应与噪声...

AEC-Q102 产品试验

AEC-Q102 产品试验

AEC-Q102产品试验针对光电子器件进...

X 射线光电子能谱 (XPS) 表面分析测试

X 射线光电子能谱 (XPS) 表面分析测试

XPS表面分析测试精确测定元素化学态与表...

金属与高分子材料失效分析

金属与高分子材料失效分析

金属与高分子材料失效分析揭示疲劳、老化与...

腐蚀机理与疲劳测试

腐蚀机理与疲劳测试

腐蚀机理与疲劳测试模拟应力腐蚀与循环载荷...

半导体材料微结构分析与评价

半导体材料微结构分析与评价

半导体材料微结构分析采用TEM、XRD等...

材料一致性评价及热力学分析

材料一致性评价及热力学分析

材料一致性评价结合热力学分析评估相变、热...

电子元器件筛选

电子元器件筛选

电子元器件筛选采用高精度电参数测试与环境...

电源管理芯片一次筛选

电源管理芯片一次筛选

电源管理芯片一次筛选针对电压调节、效率与...

电源模块一筛及检验

电源模块一筛及检验

电源模块一筛及全面检验涵盖电气性能、热管...

电磁继电器电性能测试

电磁继电器电性能测试

电磁继电器电性能测试精确测量触点电阻、动...

高功率电气元件测试

高功率电气元件测试

高功率电气元件测试评估耐压、耐流能力与散...

AEC-Q101 认证试验

AEC-Q101 认证试验

AEC-Q101认证试验针对分立半导体器...

SiC 等功率半导体器件全参数测试

SiC 等功率半导体器件全参数测试

SiC等功率半导体器件全参数测试评估高温...

电机控制器耐久测试

电机控制器耐久测试

电机控制器耐久测试模拟长时间高负载运行,...

高压电性能测试

高压电性能测试

高压电性能测试测量绝缘强度、漏电流与击穿...

OBC 耐久测试

OBC 耐久测试

OBC车载充电器耐久测试覆盖高温、高湿与...

DCDC 耐久测试

DCDC 耐久测试

DCDC转换器耐久测试验证效率、纹波与热...

IGBT 及第三代半导体器件全参数测试

IGBT 及第三代半导体器件全参数测试

IGBT及第三代半导体器件全参数测试覆盖...

认证资讯

技术分享

FIB与TEM在集成电路失效分析中的应用案例

探索FIB与TEM在集成电路失效分析中的实际案例,包括金属短路和栅极击穿诊断。了...

技术分享

SiC功率半导体全参数测试技术详解

深入解析SiC功率半导体全参数测试技术,包括静态、动态参数及可靠性评估方法。了解...

行业动态

SiC器件测试需求激增,国产机遇来临

SiC器件测试需求激增,受益新能源汽车800V平台与光伏储能爆发,2025年中国...

行业动态

AQG324标准加速SiC模块验证

AQG324标准2025最新版加速SiC模块车规验证,新增动态栅极应力与反偏测试...

行业动态

2025全球集成电路封测市场达862亿美元

2025全球集成电路封测市场规模达862亿美元,先进封装占比接近50%,受益AI...

行业动态

新能源车驱动IGBT与SiC测试市场增长

新能源汽车驱动IGBT与SiC测试市场增长,2025年中国车用IGBT超255亿...

行业动态

半导体测试设备国产化率持续提升

半导体测试设备国产化率持续提升,2025年整体达40%、分选机60%,受益AI、...

行业动态

2025半导体封装测试市场超4200亿元

2025年中国半导体封装测试市场规模预计超4200亿元,先进封装占比快速提升,受...

检测知识

AEC-Q100认证试验详解

AEC-Q100认证试验详解,包括等级分类、主要测试项目、流程要点及益处。掌握车...

免费获取半导体检测方案

注意:每日仅限20个名额

今日已申请 8人
张先生 138****5889 刚刚获取
李女士 159****5393 3分钟前获取
王经理 186****9012 7分钟前获取
赵总 135****7688 12分钟前获取
刘先生 139****7889 18分钟前获取
陈女士 158****1887 25分钟前获取
杨经理 187****6696 30分钟前获取
周总 136****0539 35分钟前获取
今日还剩 12个名额
×

免费咨询方案

免费评估认证方案和报价

电话咨询

咨询服务热线
400-878-8598
13431903519

微信咨询
微信二维码

扫码添加微信咨询

给我回电
返回顶部
电话咨询 给我回电