AEC-Q104认证测试

AEC-Q104认证测试

深圳汇策提供 AEC-Q104 认证测试服务,覆盖车用多芯片组件全系列 49 项测试,2-3 个月周期交付,专业解决 MCM 模组认证难题,助力汽车电子合规准入。

服务背景

AEC-Q104是基于失效机制的车用多芯片组件(MCM)应力测试认证规范。MCM多芯片模组规范解决了困扰IC设计厂商与Tier1汽车模块商在MCM、系统构装(System In Package, SIP)、堆叠式封装(Stacked Chip)等复杂多芯片型态应该依循IC,还是模块规范的难题。更是在车用行业规范中,首次定义车用板阶可靠性测试项目(Board Level Reliability, BLR)的规范。

产品范围

车用多芯片组件

测试项目

测试项目分组

  • ● A组:加速环境应力测试(6项)
  • ● B组:加速寿命模拟测试(3项)
  • ● C组:封装组装完整性测试(8项)
  • ● D组:晶圆制造可靠度测试(5项)
  • ● E组:电气特性确认测试(10项)
  • ● F组:瑕疵筛选监控测试(2项)
  • ● G组:空封器件完整性测试(8项)
  • ● H组:模块专项测试(7项)

AEC-Q试验实例
AEC-Q104认证测试

测试周期

2-3个月,深圳汇策提供全面的认证计划、测试等服务
AEC-Q104认证测试

常见问题

Q:AEC-Q104与其他AECQ认证服务之间的关系?

A:AEC-Q104规范中,共分为A-H八大系列。其中,一大原则,在于MCM上使用的所有组件,包括电阻电容电感等被动组件、二极管离散组件、以及IC本身,在组合前若有通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200,MCM产品只需进行AEC-Q104H内仅7项的测试,包括4项可靠性测试:TCT(温度循环)、Drop(落下)、LowTemperature Storage Life(LTSL)、Start Up &Temperature Steps(STEP);以及3项失效类检验:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA);

若MCM上的组件未先通过AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200,那必须从AEC-Q104的A-H八大测项共49项目中,依据产品应用,决定验证项目,验证项目会变得比较多。

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