服务内容
（1）在自然贮存试验或贮存加速寿命试验的情况下，开展装备定寿延寿工作、收集各种信息（含贮存故障数据、失效模式和机理），识别贮存装备薄弱环节，掌握产品老化趋势，制定装备零部件延寿方案，充分挖掘装备寿命潜力；
（2）采用特定专业的检测设备，通过加速试验、老品分析、历史数据收集等方式方法，辅以产品失效分析，即时发现贮存失效机理，并基于科学的概率数理统计理论，计算出产品的可靠性特征参数和寿命特征值分布曲线，确定装备贮存寿命。
服务范围
- 弹载产品零部件
- 长期贮存装备
- 库存电子元器件
检测标准
- GJB 150A-2009 军用装备实验室环境试验方法
- QJ 2227A-2005 航天用电子元器件有效贮存期和超期复验要求
- GB/T 5080.6-1996 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验
- GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
- GB/T 34986-2017 产品加速试验方法(等同IEC 62506)
- GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验
检测项目
- 电子板卡存储及使用寿命评价、剩余寿命分析、延寿分析
- 电子元器件存储及使用寿命评价、剩余寿命分析、延寿分析
相关资质
CNAS
测试周期
定寿延寿视实际试验方案1~3个月
服务背景
装备“长期贮存、一次使用”的特性，要求各方面都具有良好的贮存可靠性，而装备电子元器件品种众多、用量巨大，其贮存可靠性要求必须能满足复杂的应用要求。装备到寿后，其技术状态不稳定，“装备修后测试合格就继续使用”的方法越显片面，如何在有限的装备采购经费内对装备进行定寿延寿成为急需解决的问题。
