服务内容
无源滤波器、无源晶振、隔离器、3dB电桥等微波元器件老炼测试及环境应力测试。
服务范围
无源滤波器、无源晶振、隔离器、3dB电桥、衰减器等微波元件的高低温测试、静态老炼、动态老炼、振动、机械冲击、高温储存、高温工作寿命、温度循环、湿度偏置等试验。
检测标准
AEC-Q200-Rev E:2023；GJB 9152-2017；GJB 2650-1996；GJB 548C-2001
检测项目
| 试验类型 | 试验项目 |
|---|---|
| 环境应力试验 | 高温静态试验、高温贮存、温度循环、高加速应力、高温高湿试验等 |
| 寿命老炼 | 高温动态寿命试验 |
测试周期
根据相关标准或测试大纲定制。
服务背景
无源滤波器、无源晶振、隔离器、3dB电桥、衰减器等微波元器件是电子设备中不可或缺的关键元件，广泛应用于新能源汽车、军用设备、医疗仪器及工业控制等领域。环境应力试验与老炼寿命试验是确保元器件在给定工况条件下可靠性的关键手段。通过试验的元器件不仅能满足车规级、军用级、医疗级等相应的性能指标，还体现了生产商的技术与质量管控能力。
我们的优势
（1）具备自主开发滤波器等微波动态老炼/老化系统，满足大批量元器件可靠性测试需求；
（2）具备微波元件/组件的AEC-Q200全项试验验证能力，符合车规级产品要求；
（3）具备各类微波测试夹具的设计、定制、制造能力，覆盖各类常见封装的滤波器、环形器、功分器等。
常见问题
Q：无源晶振有静态寿命试验吗？如何实现工作寿命试验？
A：从器件本身特性来看，无源晶振是被动元器件，必须依靠外在能量来驱动，器件才能处于工作状态。因此无源晶振无法执行静态老炼试验。当执行无源晶振的寿命试验时，首先需要根据晶振的特性去设计一个起振外围电路，如使用反相器、负反馈电阻（1MΩ）、负载电容等设计无源晶振最小工作系统后，才能去做工作寿命试验。
Q：如何实现微波无源元件动态工作寿命试验？
A：需要对元件输入射频信号，首先给待测样品做50Ω的微带板PCB仿真，再把样品焊接在带SMA接头的50Ω的PCB上。此时即可通过信号源驱动功放，让功放输出合适幅度的功率，通过射频线缆把射频信号引入样品的输入端，并且输入端功率可用上位机进行实时监控，输出端用50Ω负载作为输出功率匹配与功率吸收。
