功放管/低噪放等动静态老炼及可靠性测试

功放管/低噪放等动静态老炼及可靠性测试

深圳汇策提供功放管(PA)、低噪声放大器(LNA)动静态老炼及可靠性测试,覆盖环境应力、寿命试验,具备 AEC-Q 车规试验能力与定制夹具实力。

服务内容

功率放大管(PA)、低噪声放大器(LNA)、射频模组等静态/动态老炼验证。

服务范围

功率放大管、低噪声放大器、射频模组的高低温测试、静态老炼、动态老炼、振动、机械冲击、高温储存、高温工作寿命、温度循环、湿度偏置等试验。

检测标准

GJB 548C-2001;GJB 2650-1996;GJB 360B-2009;GJB 8125-2013;GJB 5847-2006

检测项目

试验类型 试验项目
环境应力试验高温静态试验、高温贮存、温度循环、高加速应力、高温高湿试验等
寿命老炼高温动态寿命试验

测试周期

根据相关标准或测试大纲定制

服务背景

近些年来,无论是国防军事工业,还是新能源汽车、5G通信、健康医疗等领域爆发式发展,射频微波的需求亦急剧增加,相关模组、元器件等产品的可靠性受到了高度关注。作为核心元器件的功放管、低噪放,需要进行严格的环境试验与寿命试验,以确保其在应用环境中具备高可靠性。

我们的优势

(1)具备低噪声放大器、功率放大器等微波芯片的器件级、板级验证能力;

(2)具备自主开发测试夹具(socket)的设计、定制、制造能力,覆盖各类封装形式;

(3)具备微波芯片车规全套AEC-Q试验能力,满足车载领域可靠性要求。

常见问题

Q:对于PA、LNA等微波器件的静态寿命试验与动态寿命试验如何选择夹具?

A:微波器件中的PA与LNA与常规的电子元器件有很大区别,在加电过程中,需要给PA与LNA专门仿真定做50Ω与样品匹配的老炼夹具;并且夹具中的微带PCB与散热底座采用专门的微组装烧结工艺,防止上电后/做试验过程中因失配出现自激,导致试验失败或者烧坏样品。

Q:如何保证大批量PA、LNA动态老炼试验输出功率一致性?

A:对于PA、LNA的动态老炼试验需要加载器件额定工作电压,还需要驱动功放给样品输入合适大小的射频信号,同时需保证样品输出功率达到额定功率进行老炼。深圳汇策现有设备可提供64工位老炼,单一工位带有独立的驱动功放;且每路功放带有独立的ATT可调增益;每个工位上的被测样品的输入输出都有功率检波,可实时监控样品的输出功率,并根据实际情况调节ATT,保证所有被测样品所承受的电应力(输出功率)的一致性。

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