服务范围
1. 技术评估：提供专业技术支持，精准确认客户需求
2. 测试方案开发：定制针对性测试方案，并根据客户需求优化迭代
3. 测试硬件开发：甄选适配测试平台，定制专用socket&kit及loadboard
4. 程序开发与调试：完成三温环境下ATE程序开发与调试工作
5. 老炼能力开发：提供定制夹具、原理图设计、layout、制板及调试全流程服务
6. 筛选测试：开展器件测试，出具规范测试报告
检测标准
● GJB 597B-2012 半导体集成电路通用规范
● GJB548C-2021 微电子器件试验方法和程序
● 行业规范：MIL、IEEE、JEDEC等国际国内行业标准
● 客制标准：依据产品手册、详细规范及定制测试方案执行
检测项目
全部检测项目列出（包含上方套餐项目）
| 序号 | 项目 | 参考标准 |
|---|---|---|
| 1 | 外部目检 | GJB548C-2021 方法2016 |
| 2 | 粒子碰撞噪声检测 | GJB548C-2021 方法2020.2 |
| 3 | 密封 | GJB548C-2021 方法1014.3 |
| 4 | 温度循环 | GJB548C-2021 方法1010.1 |
| 5 | 老炼 | GJB548C-2021 方法1015.1 |
| 6 | 三温测试 | 产品手册或详细规范 |
| 7 | X射线照相检查 | GJB548C-2021 方法2012.2 |
| 8 | 超声扫描检查 | GJB548C-2021 方法2030.1 |
相关资质
具备CNAS认证资质
测试周期
常规测试周期为10个工作日
服务背景
集成电路一次筛选是芯片生产与销售环节中的核心质量控制节点，核心作用为剔除存在缺陷或性能不达标的器件。随着集成电路技术向更高集成度、更小制程方向演进，一次筛选的技术复杂性与精度要求也随之显著提升。
核心优势
实验室多年的项目服务积累了丰富的技术经验，目前拥有模拟测试系统（STS8200、STS8300等）、三温机械手、三温热流罩、集成电路老化系统等专业筛选设备2000余台（套），同时配备了专门的筛选技术开发团队，可“一站式”解决客户需求，能做到对客户的需求快速响应，提供科学、公正、准确、快捷、周到的服务。
