产品范围
北斗导航芯片、高速存储器、通用SOC系列、高速高精度ADC/DAC、大功率模拟IC、控制器、可编程逻辑器件、总线接口系列、射频器件、放大器、驱动芯片、监控芯片、电源类芯片等
检测标准
● GJB 597B-2012半导体集成电路通用规范
● GJB 2438A-2002混合集成电路通用规范
● GJB 548C-2021 微电子器件试验方法和程序
● GJB 7400-2011合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范
● 客制标准：产品手册、详细规范、测试方案
检测项目
| 测试组别 | 检测内容 |
|---|---|
| A组-电气性能测试 | 静态试验；动态试验；开关参数测试 |
| B组-封装工艺测试 | 耐溶解性；键合强度（超声焊）；芯片剪切或拉力；可焊性（浸润法）；X射线；超声检测 |
| C组-寿命可靠性 | 稳态寿命；电测试 |
| D组-封装可靠性 | 物理尺寸；引线牢固性；预处理（超声波检测）；高温贮存；目检；密封；电测试；高压蒸煮；温度循环；强加速稳态湿热试验（HAST）；盐雾试验（盐气）；引线镀涂附着力；耐焊接热；易燃性（外部）；易燃性（内部） |
相关资质
CNAS
服务背景
通过对元器件产品的生产质量的周期性检验，确保产品质量在不同批次的生产过程中保持稳定的一种质量控制方式。
核心优势
深圳汇策具有A组、B组、C组、D组试验的一站式服务能力。
