半导体器件 ESD 测试标准与失效分析指南

深入解析静电放电测试全流程，涵盖 HBM、CDM 及 MM 模型差异与国际通用标准解读。提供专业半导体 ESD 失效定位、热点检测与可靠性评估方案，助力电子企业提升产品抗静电能力，确保集成电路器件在复杂应用环境下的稳定运行与生产良率控制，降低售后失效风险。

2026-06-25 检测知识