光电子器件失效分析
光电子器件失效分析结合光学与电学测试,定位光电转换效率下降与暗电流增加等故障根因。

光电子器件失效分析结合光学与电学测试,定位光电转换效率下降与暗电流增加等故障根因。

光模块可靠性测试覆盖高温老化、湿热与光功率稳定性,确保数据中心与通信链路长期无故障运行。

硅光芯片测试评估调制器、探测器与波导性能,支持高速光互连与集成光子学应用。

光电子器件测试测量响应速度、谱响应与噪声特性,提供激光器、探测器等器件全面性能数据。

AEC-Q102产品试验针对光电子器件进行汽车级环境与耐久性验证,确保车载传感与照明可靠。

XPS表面分析测试精确测定元素化学态与表面组成,适用于薄膜、氧化层与污染物研究。
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