TDDB 测试

专注半导体 TDDB 时间依赖介质击穿测试，提供符合 JEDEC 及 AEC-Q100 标准的第三方可靠性验证服务。涵盖栅氧完整性评估、寿命预测模型构建及失效机理深度分析，助力芯片研发阶段设计优化与量产质量管控。通过高精度应力测试与数据统计，确保器件在复杂工况下的长期稳定运行，为集成电路可靠性提供权威数据支撑。